Texas Instruments SN74BCT8374ADW

Name: Texas Instruments SN74BCT8374ADW
Brand: Texas Instruments
SKU: SN74BCT8374ADW

Scan Test Device With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops 24-SOIC 0 to 70

$ 9.18

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Distributor	SKU		Min	Pkg
DigiKey	296-33849-5-ND	30	1	Tube	13.740	10.829	10.103	10.103	10.103
Mouser	595-SN74BCT8374ADW	68	1	Tube	13.740	10.830	9.490	9.180	9.180
Win Source	WS-SN74BCT8374ADW	20	17				2.398	2.078	2.078	5h
Worldway Electronics	SN74BCT8374ADW	22,425	7	Tube		9.731	9.547	9.180	8.996	4h
NetSource Technology	SN74BCT8374ADW	235			4.000	4.000	4.000	4.000	4.000	13h

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Texas Instruments

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エンジニアリングリソース

Texas InstrumentsSN74BCT8374ADWの評価キットとリファレンスデザインを表示します。

評価キット

SN74BCT8374ADW評価キット

説明

Texas Instruments SN74BCT8374ADWの詳細は販売業者から提供されます。

Scan Test Device With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops 24-SOIC 0 to 70

Texas Instruments

Flip Flop D-Type Bus Interface Pos-Edge 3-ST 1-Element 24-Pin SOIC Tube

Avnet

LOGIC, SCAN TEST DEVICE W/FF, 24SOIC; Flip-Flop Type:D; Propagation Delay:6.7ns; Frequency:70MHz; Output Current:64mA; Trigger Type:Positive Edge; Supply Voltage Range:4.5V to 5.5V; Logic Case Style:SOIC; No. of Pins:24; Operating Temperature Range:0°C to +70°C; SVHC:No SVHC (20-Jun-2011); Logic Function Number:748374; Logic IC Base Number:748374; Logic IC Family:BCT; Logic IC Function:Scan Test Device with Octal D-Type Edge Triggered Flip-Flop; Output Type:Non Inverted; Package / Case:SOIC; Supply Voltage Max:5.5V; Supply Voltage Min:4.5V; Termination Type:SMD

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